319 シンクロトロン放射光による極薄層内の残留応力分布測定
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概要
著者
-
秋田 貢一
東京都市大学
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秋田 貢一
武蔵工業大学 工学部 機械システム工学科
-
谷口 昌平
都産技研
-
谷口 昌平
(地独)東京都立産業技術研究センター 研究開発部
-
吉岡 靖夫
武蔵工業大学
-
若山 修一
都立大
-
吉岡 靖夫
武蔵工大
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秋田 貢一
都立大学
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谷口 昌平
都立産技研
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