233 複数波長のシンクロトロン放射光による残留応力の深さ分布測定 : X 線侵入深さの検討
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概要
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- 社団法人日本材料学会の論文
- 2002-05-22
著者
-
秋田 貢一
武蔵工大
-
秋田 貢一
東京都市大学
-
鈴木 裕士
原子力機構
-
秋田 貢一
武蔵工業大学 工学部 機械システム工学科
-
鈴木 裕士
原研
-
鈴木 裕士
日本原子力研究開発機構
-
吉岡 靖夫
武蔵工業大学
-
鈴木 裕士
都立大院
-
久保田 耕平
都立大学
-
吉岡 靖夫
武蔵工大
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