CMOSイメージセンサの暗電流に対する負電圧駆動および光ストレスの効果(携帯電話用カメラ,デジタルスチルカメラ,ビデオカメラ(ハイビジョン)とそのためのイメージセンサ,モジュール)

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概要

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• 高速・低ノイズの埋め込みフォトダイオード型CMOSイメージセンサに負電圧駆動回路を内蔵し、暗電流と負電圧駆動の関係を解析した。また、強い可視光を照射した場合の暗電流への影響を評価した。その結果、負電圧駆動の暗電流低減効果はデバイスシミュレーションから説明でき、また強い照射光が暗電流増大をもたらす光ストレスについて物理的メカニズムを解明することができた。

• 社団法人映像情報メディア学会の論文
• 2009-09-28

著者

• 青山 聡

  (株)ブルックマン テクノロジ

• 川人 祥二

  静大・電研

• 渡辺 恭志

  (株)ブルックマンテクノロジ

• 朴 鍾皓

  (株)ブルックマンテクノロジ

• 磯部 圭吾

  (株)ブルックマンテクノロジ

• 川人 祥二

  (株)ブルックマンテクノロジ

• 川人 祥二

  静岡大学 電子工学研究所

• 川人 祥二

  静岡大学

• 渡辺 恭志

  (株)ブルックマン・ラボ

• Kawahito Shoji

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• 磯部 圭吾

  (株)ブルックマン・ラボ

• 朴 鍾皓

  (株)ブルックマン・ラボ

• 朴 鍾皓

  (株)ブルックマン テクノロジ

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