可変ゲイン増幅機能付きCMOSイメージセンサ用A/D変換器(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
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概要
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本稿では,CMOSイメージセンサのカラム読み出し可変ゲインの増幅機能を有するA/D変換器におけるゲイン精度及びA/D変換器の基本特性について述べる.従来のサイクリックA/D変換器の容量間にスイッチを設けることにより,可変ゲイン増幅機能付きA/D変換器を実現した.ゲインを1,2,4,8倍に可変することができ,可変ゲインとしてゲイン誤差が0.16%以下の精度を得られた.また,A/D変換を行う前に増幅を行うことによってA/D変換器で発生する誤差やノイズは信号成分に対して小さくなる.そのため,ゲイン1倍ではDNLが(+0.4871,-1.3792),INLが(+3.7856,-4.4782),ノイズが196μVrmsであった.しかし,ゲイン8倍にすることにより,DNLは(+0.0611,-0.1812),INLは(+0.3795,-0.7662),ノイズが120μVrmsと低減した.
- 2010-07-22
著者
-
川人 祥二
静岡大学電子工学研究所
-
川人 祥二
静大・電研
-
川人 祥二
静岡大学 電子工学研究所
-
川人 祥二
静岡大学
-
安富 啓太
静岡大学電子工学研究所
-
飯田 哲也
株式会社ブルックマンテクノロジ
-
赤堀 知行
株式会社ブルックマンテクノロジ
-
ビン ムスタファ
静岡大学電子工学研究所
-
Kawahito Shoji
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
飯田 哲也
ブルックマンテクノロジ
-
赤堀 知行
ブルックマンテクノロジ
-
赤堀 知行
(株)ブルックマンテクノロジ
-
安富 啓太
静岡大学工学部
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