C-5 超音波原子間力顕微鏡によるナノスケールの材料評価(光-超音波エレクトロニクス・非破壊検査,口頭発表)

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概要

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• 超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム運営委員会の論文
• 2001-11-07

著者

• 山中 一司

  東北大院・工

• 辻 俊宏

  東北大学大学院工学研究科:jst-crest

• 入浜 洋

  東北大学

• 辻 俊宏

  東北大院・工

• 入浜 洋

  東北大院・工

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