トランジスタの特性ばらつきを利用したチップID用データ発生回路の特性(半導体材料・デバイス)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
拡散プロセスが微細化し,新しい欠陥や新しい故障モデルの出現によって,品質確保がますます難しくなってきている.その中で,トレーサビリティを上げるためのチップID(Identification)の研究が多数なされている.本論文ではチップIDとして,トランジスタの特性ばらつきを利用したものを使ったときの,特性について議論する.そして,その特性理論と実証結果がよく一致することを示す.更に,このチップIDを使って歩留り向上を図った実例を示し,チップIDが歩留り向上にも効果的であること示す.
- 2006-04-01
著者
関連論文
- 量産検査のIDDQによる欠陥検出力(半導体材料・デバイス)
- 量産検査コスト削減を目的としたテスト時間短縮法の実践的有効性の検証(電子デバイスの信頼性技術)
- マイクロプロセッサの故障検出率向上のための命令サンプリング手法
- フルスキャン設計での要求故障検出率を達成するためのテストパターン長(半導体材料・デバイス)
- トランジスタの特性ばらつきを利用したチップID用データ発生回路の特性(半導体材料・デバイス)
- 仮想テスタハードウェアを用いたテスト時間短縮法
- IDDQによるスキャンチェイン不良箇所特定手法
- VLSIの製造原価の考察