平瀬 潤一 | 松下電器産業株式会社半導体開発本部
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概要
関連著者
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平瀬 潤一
松下電器産業株式会社半導体開発本部
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平瀬 潤一
独立行政法人科学技術振興機構
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吉村 慎一
松下電器産業株式会社半導体社開発本部システムlsi技術統括部
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著作論文
- マイクロプロセッサの故障検出率向上のための命令サンプリング手法
- トランジスタの特性ばらつきを利用したチップID用データ発生回路の特性(半導体材料・デバイス)
- IDDQによるスキャンチェイン不良箇所特定手法
- VLSIの製造原価の考察