マイクロプロセッサの故障検出率向上のための命令サンプリング手法

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概要

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マイクロプロセッサのテスト品質向上には, その命令セットを用いたテストが必須である.本論文では, この命令セットの組合せからなる機能テストパターンを自動的に生成し, 故障検出率を効果的に向上させる手法を新しく開発したので, その手法について論じる.この手法は, まず, S個の命令ニーモニック(アセンブラ命令)すべてをテストするテストパターンを生成し, そのテストパターンによって検出できなかった未検出故障に対して, S個の命令からK個の命令をL組取り出し, その中から故障検出率を効果的に向上させるものを選択する.これを繰り返すことによって, 短いテストパターンで所望の高い故障検出率を得ることができる.また, これに基づいて作成したソフトウェアによる実験結果が, この手法の有効性を示した.
2000-09-25

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