IDDQによるスキャンチェイン不良箇所特定手法
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概要
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検査において, 効果的に順序回路(sequential circuits)を試験するスキャン設計の使用は, 広く受け入れられ, LSI産業的には通例となっている.しかし, スキャン設計の特徴を利用するには, スキャンチェイン(scan chain)が正常に動作することが必要である.本論文では, スキャンチェインを効率的に診断するための新しい手法を紹介する.その主な考え方は, スキャンチェインに不良が生じた場合, IDDQが異常に流れることを利用して, 不良チェインを特定化することである.しかも, チェインの中の不良箇所までも特定化する.そして, 実証結果により, この手法が効果的であることを示す.
- 2000-08-25
著者
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