VLSIの製造原価の考察
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概要
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本論文では, まず, VLSIの製造原価が何から構成されているかを考え, その各要素の計算式を考察する.そして, その計算式をもとに, テスト回路と製造原価との関係を論ずる.テスト回路挿入による歩留り低下と1ウェーハからとれるダイ数の減少のロス金額と, テスト回路挿入による検査コスト低減の関係から経済的に適正なテスト回路面積があることを示す.次に, 経済的観点からは, VLSIには, 最大チップ面積が存在することを論ずる.これは, 1チップVLSIの製造原価と, そのVLSIを2分した2チップのVLSIの製造原価を比較することによって, 得る.
- 2000-02-25
著者
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