平瀬 潤一 | 独立行政法人科学技術振興機構
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概要
関連著者
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平瀬 潤一
独立行政法人科学技術振興機構
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平瀬 潤一
松下電器産業株式会社半導体開発本部
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平瀬 潤一
独立行政法人科学技術振興機構JSTイノベーションサテライト高知
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吉村 慎一
松下電器産業株式会社半導体社開発本部システムlsi技術統括部
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吉村 慎一
松下電器産業株式会社半導体開発本部
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瀬崎 朋久
松下電器産業株式会社半導体開発本部
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進藤 直樹
松下電器産業株式会社半導体開発本部
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赤堀 浩二
松下電子工業株式会社半導体社
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瀬崎 朋久
松下電器産業半導体社開発本部
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平瀬 潤一
松下電機産業株式会社半導体社
著作論文
- 量産検査のIDDQによる欠陥検出力(半導体材料・デバイス)
- 量産検査コスト削減を目的としたテスト時間短縮法の実践的有効性の検証(電子デバイスの信頼性技術)
- マイクロプロセッサの故障検出率向上のための命令サンプリング手法
- フルスキャン設計での要求故障検出率を達成するためのテストパターン長(半導体材料・デバイス)
- トランジスタの特性ばらつきを利用したチップID用データ発生回路の特性(半導体材料・デバイス)
- 仮想テスタハードウェアを用いたテスト時間短縮法
- IDDQによるスキャンチェイン不良箇所特定手法
- VLSIの製造原価の考察