パルスレーザー照射欠陥の観察(TEM)
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概要
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Defects induced by Pulse-laser irradiation are observed by the transmission electron microscope (TEM). The specimens irradiated by a pulse-laser reveal groups of many stacked dislocations. These Defects exist in a quite local manner. After the intentional contamination by the Cu diffusion, many disk-like images attached to the dislocation or the stacking fault are observed. The disks are determined to be Cu precipitates, by the analyses by diffraction pattern and energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX).
- 宮崎大学の論文
- 2009-09-30
著者
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