ビッカーズ硬度試験による金属の引張特性評価法
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- 原子クラスター過程のモンテカルロシミュレーション
- 窒素イオン注入Si及びSi酸化膜端に生じる格子欠陥の観察と評価
- X線トポグラフィによるSi結晶表面下の格子歪の解析
- 低エネルギーNイオン注入Siのアニール効果と表面格子歪の評価
- X線異常透過法によるGaAsウエハ-の熱処理効果
- LiF単結晶のX線モアレ縞
- パソコン結晶儀
- 2a-M-13 SOR を用いたトポグラフ像のシミュレーションによる検討
- 31a-BF-2 ADP単結晶ちゅうの双晶による回折コントラスト
- 31a-BF-1 ADP単結晶中の転位構造
- 各学部における公開講座の総括的検討 : その課題と展望
- シリコン結晶中の欠陥形成に及ぼす高温熱処理効果
- 10a-Z-3 ADP単結晶の干渉縞
- 11p-T-3 劈開クラック先端のX線トポグラフ (LiF)
- 1p-E-4 MgO 単結晶の X 線トポグラフィー
- パルスレーザー照射によるシリコン結晶の強化
- パルスレーザー照射欠陥のゲッタリング能力評価
- ウルトラミクロトームによる透過型電子顕微鏡試料の作成
- パルスレーザー照射欠陥の観察(TEM)
- パルスレーザー照射ゲッタリングのESCAによる評価
- パルスレーザー照射欠陥のTEM観察
- シリコン中の酸素析出物と観察
- Kα2重線を用いた格子定数の精密測定法
- レ-ザ照射による損傷 (樋口正一博士記念号)
- 10p-J-5 レーザ照射により生成した転位のX線トポグラフ
- 12a-K-7 劈開クラック先端のX線トポグラフII(LiF)
- 11p-T-4 蛍光X線を利用した疑コッセル線
- シリコン(Si)表面に形成されたDenuded Zone境界の格子定数の変化
- 3-224 新入生が最初に出会う講義の効果的な企画 : あたらしい試みの実践的検討((1)基礎科目の講義・演習-III)
- 化学的気相成長法窒化膜によるSi結晶中の格子欠陥の研究
- X線回折法による不純物拡散シリコン結晶の格子歪の解析
- シリコン結晶中の酸素析出に伴う格子欠陥の観察
- ビッカーズ硬度試験による金属の引張特性評価法
- X線回析による非晶質合金(Ni_81P_19)の動的結晶化過程の解析
- ビッカース硬度試験法による金属の応力 : 歪挙動評価法