24pYF-8 シリコン中のCu複合体のフォトルミネッセンス : 解釈(格子欠陥・ナノ構造(半導体),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2008-02-29
著者
-
白井 光雲
阪大産研
-
吉田 博
阪大基礎工
-
江村 修一
阪大・産研
-
山口 宏信
大阪大学基礎工学研究科
-
白井 光雲
阪大・産研
-
吉田 博
阪大・産研
-
山口 宏信
阪大・産研
-
Katayama-yoshida Hiroshi
Department Of Physics Tohoku University
-
吉田 博
阪大産研:科技団
-
吉田 博
阪大院基礎工
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- 前田康二,竹内伸, 結晶欠陥の物理, 裳華房, 東京, 2011, ix+216p, 22×16cm, 本体3,500円, [大学院・学部向], ISBN978-4-7853-2917-4
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