19pRG-14 ESR法による高分子MISデバイス界面における分子配向評価 : 基板平滑度依存性(金属架橋・結晶成長・高分子,領域7,分子性固体・有機導体)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2007-02-28

著者

• 伊東 裕

  名大院工

• 黒田 新一

  名大院工

• 田中 久暁

  名大院工

• 渡辺 峻一郎

  名大院工

• 丸本 一弘

  筑波大院数物

• 下位 幸弘

  産総研

• 下位 幸弘

  産総研ナノテク

• 丸本 一弘

  筑波大院数物:jstさきがけ

• 阿部 修治

  産業技術総合研究所 ナノテクノロジー研究部門

• 阿部 修治

  産総研

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