垂直磁化ナノドットの熱アシスト磁化反転シミュレーション
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概要
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The thermally assisted reversal of micro-magnetization was simulated for sub-100-nm dots with perpendicular magnetization by using a Langevin-Landau-Lifshitz-Gilbert equation, where thermal effects are modeled by random fields. Two different thermally assisted reversal methods of 1) a thermal relaxation scheme and 2) a switching scheme were compared. Superior performance was obtained for the thermal relaxation scheme from the view point of reducing the reversal field. An auto correlation function in the time domain was introduced to analyze the stochastic properties of the thermally fluctuating directions of magnetization.
- 社団法人日本磁気学会の論文
- 2008-07-01
著者
-
松山 公秀
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
能崎 幸雄
九州大学大学院システム情報科学研究院
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能崎 幸雄
九州大学システム情報科学研究院 電子デバイス工学部門
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松山 公秀
九州大学システム情報科学研究院 電子デバイス工学部門
-
古賀 雅士
九州大学システム情報科学研究院電子デバイス工学部門
-
プルナマ ブディ
九州大学システム情報科学研究院電子デバイス工学部門
-
NANJO Yuki
Hoechst Research and Technology Japan Ltd.
-
能崎 幸雄
慶応義塾大学 理工学部
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