ベクトルネットワークアナライザFMR分光法によるNiFe薄膜パターンのマイクロ波アシスト磁化反転検出
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概要
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- 2009-03-13
著者
-
松山 公秀
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
成田 直幸
九州大学大学院システム情報科学府
-
田中 輝光
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
能崎 幸雄
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
大田 正直
九州大学大学院システム情報科学研究院電子デバイス工学部門
-
成田 直幸
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
NANJO Yuki
Hoechst Research and Technology Japan Ltd.
-
松山 公秀
九州大学大学院 システム情報科学研究院
-
田中 輝光
九州大学大学院 システム情報科学研究院
-
立石 健太郎
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
大田 正直
九州大学大学院システム情報科学研究院
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