測定データの異常値除去方法 : 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
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概要
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VLSI設計における素子ばらつきの考慮は、現在、そして未来おける重大関心事である。しかも、素子測定、ばらつきのモデリング、設計への反映の各段階において、新たなる技術開発のステップが多数存在する。そしてその多くは独自の基本概念を必要とする革新的技術である。そのような多数の課題の一つ、測定データの異常値除去の方法を新たに開発した。基本統計量の歪度を応用している。正常データに対する副作用は少なく、異常なデータを効率的に除去することができる。素子ばらつきの評価に必要な、大規模測定の信頼性を、著しく向上させることが可能になる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-11-15
著者
-
増田 弘生
Mirai‐selete
-
大川 眞一
(株)ルネサステクノロジデバイスip開発部:早稲田大学大学院情報生産システム研究科
-
大川 眞一
株式会社ルネサステクノロジ
-
増田 弘生
株式会社ルネサステクノロジ
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