大川 眞一 | (株)ルネサステクノロジデバイスip開発部:早稲田大学大学院情報生産システム研究科
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概要
関連著者
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大川 眞一
(株)ルネサステクノロジデバイスip開発部:早稲田大学大学院情報生産システム研究科
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増田 弘生
(株)ルネサステクノロジデバイスIP開発部
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増田 弘生
Mirai‐selete
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大川 眞一
(株)ルネサステクノロジデバイスIP開発部
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黄田 剛
(株)ルネサステクノロジ
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青木 正和
諏訪東京理科大学
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青木 正和
諏訪東京理大
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大川 眞一
株式会社ルネサステクノロジ
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増田 弘生
株式会社ルネサステクノロジ
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井上 靖秋
早稲田大学大学院情報生産システム研究科
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大川 眞一
株式会社 ルネサス テクノロジ
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増田 弘生
株式会社 ルネサス テクノロジ
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増田 弘生
(株)半導体理工学研究センター
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山本 雅晴
(株)半導体理工学研究センター
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大川 眞一
(株)半導体理工学研究センター
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青木 正和
(株)半導体理工学研究センター
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増田 弘生
(株)半導体理工学研究センター 物理設計開発室
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井上 靖秋
早稲田大学
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瀬戸 健二
諏訪東京理科大学
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大川 眞一
ルネサステクノロジ
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増田 弘生
ルネサステクノロジ
著作論文
- ランダム曲面による空間相関の表現(集積エレクトロニクス)
- トランジスタばらつき簡易モデリングとSRAMセル動作マージン解析
- ランダム曲面による空間相関の表現 : LSI設計でのシステムばらつき考慮方法
- ランダム曲面による空間相関の表現 : LSI設計でのシステムばらつき考慮方法(ディジタル・情報家電,放送用,ゲーム機用システムLSI,回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
- 90nm世代を迎えたバラツキ設計技術の課題(プロセス・デバイス・回路・シミュレーション及び一般)
- [招待論文]90nm世代を迎えたバラツキ設計技術の課題(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- ランダム曲面の性質と新しい曲面モデルの提案(集積エレクトロニクス)
- ランダム曲面モデルによる空間相関に関する考察 (第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集) -- (統計的解析)
- ランダム曲面の性質と新しい曲面モデルの提案 : ガウス分布の回転体によるユニバーサルなランダム曲面モデル(低消費電力/耐ノイズ・ばらつき設計(2),システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
- ランダム曲面の性質と新しい曲面モデルの提案 : ガウス分布の回転体によるユニバーサルなランダム曲面モデル(低消費電力/耐ノイズ・ばらつき設計(2),システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
- 微細CMOSアナログ小信号パラメータの簡易モデル(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- 微細CMOSアナログ小信号パラメータの簡易モデル(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- チップ内システマティックばらつきと回路スキュー特性相関 (第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集) -- (タイミング・電力を考慮した設計)
- 微細CMOSアナログ回路のミスマッチモデリング動向(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- 微細CMOSアナログ回路のミスマッチモデリング動向(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- アナログ回路のミスマッチ特性解析
- アナログ回路のミスマッチ特性解析(ディジタル・情報家電,放送用,ゲーム機用システムLSI,回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
- アナログ回路のミスマッチ特性解析
- 測定データの異常値除去方法 : 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 測定データの異常値除去方法 : 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 測定データの異常値除去方法 : 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- ランダム曲面モデルによる空間相関の表現とLSI設計への応用 (第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集) -- (DFM(3))