大川 眞一 | 株式会社ルネサステクノロジ

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概要

• 同名の論文著者
• 株式会社ルネサステクノロジの論文著者

関連著者

• 増田 弘生

  Mirai‐selete

• 大川 眞一

  (株)ルネサステクノロジデバイスip開発部:早稲田大学大学院情報生産システム研究科

• 大川 眞一

  株式会社ルネサステクノロジ

• 増田 弘生

  株式会社ルネサステクノロジ

著作論文

• ランダム曲面の性質と新しい曲面モデルの提案 : ガウス分布の回転体によるユニバーサルなランダム曲面モデル(低消費電力/耐ノイズ・ばらつき設計(2),システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
• ランダム曲面の性質と新しい曲面モデルの提案 : ガウス分布の回転体によるユニバーサルなランダム曲面モデル(低消費電力/耐ノイズ・ばらつき設計(2),システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
• 測定データの異常値除去方法 : 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 測定データの異常値除去方法 : 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
• 測定データの異常値除去方法 : 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)

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