微細CMOSアナログ小信号パラメータの簡易モデル(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
微細デバイスではCMOSデバイスのしきい電圧・ドレイン電流のミスマッチ特性が劣化する。これは、デジタル回路ではタイミング遅延のチップ内ばらつきをもたらし、設計を難しいものにする。他方、ミックストシグナルLSIではアナログ回路が混載されており、ミスマッチ特性がデジタル回路以上に問題になることが予想される。本論文ではアナログ回路特性を決める小信号パラメータgm、gdsを簡潔に表現する簡易MOSモデルの検討を行った。開発した簡易モデルは、65nm-150nmの広範囲な測定データで検証を行い妥当な小信号パラメータ精度が保障できることを確かめた。本モデリングは筆者らが報告してきたアナログ回路特性のミスマッチモデリングの精度をさらに向上するために必須の技術である。
- 2007-10-24
著者
-
大川 眞一
(株)ルネサステクノロジデバイスIP開発部
-
増田 弘生
(株)ルネサステクノロジデバイスIP開発部
-
増田 弘生
Mirai‐selete
-
大川 眞一
(株)ルネサステクノロジデバイスip開発部:早稲田大学大学院情報生産システム研究科
-
黄田 剛
(株)ルネサステクノロジ
関連論文
- ランダム曲面による空間相関の表現(集積エレクトロニクス)
- トランジスタばらつき簡易モデリングとSRAMセル動作マージン解析
- ランダム曲面による空間相関の表現 : LSI設計でのシステムばらつき考慮方法
- ランダム曲面による空間相関の表現 : LSI設計でのシステムばらつき考慮方法(ディジタル・情報家電,放送用,ゲーム機用システムLSI,回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
- 90nm世代を迎えたバラツキ設計技術の課題(プロセス・デバイス・回路・シミュレーション及び一般)
- [招待論文]90nm世代を迎えたバラツキ設計技術の課題(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- Vthばらつきに拠る出力遷移時間ばらつきの解析 (第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集) -- (統計的解析)
- 物理設計完全性のための新配線アーキテクチャ(配置配線)(システムLSIの設計技術と設計自動化)
- [特別招待論文]物理設計完全性を目指した配線方式(回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
- [特別招待論文]物理設計完全性を目指した配線方式
- ランダム曲面の性質と新しい曲面モデルの提案(集積エレクトロニクス)
- ランダム曲面モデルによる空間相関に関する考察 (第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集) -- (統計的解析)
- ランダム曲面の性質と新しい曲面モデルの提案 : ガウス分布の回転体によるユニバーサルなランダム曲面モデル(低消費電力/耐ノイズ・ばらつき設計(2),システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
- ランダム曲面の性質と新しい曲面モデルの提案 : ガウス分布の回転体によるユニバーサルなランダム曲面モデル(低消費電力/耐ノイズ・ばらつき設計(2),システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
- 微細CMOSアナログ小信号パラメータの簡易モデル(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- 微細CMOSアナログ小信号パラメータの簡易モデル(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- チップ内システマティックばらつきと回路スキュー特性相関 (第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集) -- (タイミング・電力を考慮した設計)
- 微細CMOSアナログ回路のミスマッチモデリング動向(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- 微細CMOSアナログ回路のミスマッチモデリング動向(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- アナログ回路のミスマッチ特性解析
- アナログ回路のミスマッチ特性解析(ディジタル・情報家電,放送用,ゲーム機用システムLSI,回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
- アナログ回路のミスマッチ特性解析
- 測定データの異常値除去方法 : 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 測定データの異常値除去方法 : 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 測定データの異常値除去方法 : 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法(ばらつき解析と耐ばらつき設計,デザインガイア2007-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- ランダム曲面モデルによる空間相関の表現とLSI設計への応用 (第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集) -- (DFM(3))