半導体デバイスの信頼性基礎講座(2)(RCJ故障物理研究委員会編) : LSIの寿命分布(信頼性基礎講座)

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概要

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• 日本信頼性学会の論文
• 2007-08-01

著者

• 木村 忠正

  電気通信大学 電気通信学部 電子工学科

• 木村 忠正

  電気通信大学

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