ナノスケール高信頼性LSIの寿命分布 : 故障物理からのバスタブ曲線の考察(故障物理と信頼性)
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概要
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ナノスケール時代の最新の半導体LSIの信頼性は,従来のバスタブ曲線の考え方には必ずしも従わない.高信頼性LSIでは故障率vs時間特性をどのように孝えるべきか,故障物理の視点から,従来のバスタブ曲線の初期故障,偶発故障,摩耗故障それぞれの領域を見直し,新しい考え方を提案する.
- 日本信頼性学会の論文
- 2004-01-25
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