XAFSによる微粒子の化学状態分析(<特集>分析技術と方法論の最近の進歩)
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概要
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The measurement of X-ray absorption fine structure (XAFS) spectra of fine particle samples using the total electron yield and X-ray fluorescence yield methods reveals the chemical state of surface and bulk, separately, of powder samples. For various particulate environmental samples (both standard samples and sampled in the fields) are measured and the chemical state analysis of sulphur has been performed in the present study. The difference among the samples collected at a same place/date and the similarity among the samples collected at the different places/date are discussed from the view point of the error introduced in the present experiment.
- 2007-02-01
著者
-
石井 秀司
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻:(現)(株)イオン工学研究所
-
石井 秀司
京都大学大学院工学研究科
-
河合 潤
京大工
-
河合 潤
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
-
松本 諭
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
-
田辺 晃生
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
-
石井 秀司
東京大学 生産技術研究所
-
河合 潤
京都大学大学院工学研究科
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