蛍光X線分光法による電子部品中のレアメタルおよび貴金属の分析
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概要
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Rare and noble metals contained in electric and electronic devices were analyzed by a commercially available energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer. Several kinds of rare and noble metals such as nickel, cobalt, tungsten, zirconium, gold, silver, and bismuths were detected by analysis of the samples at inside part after removal of the package or crushing. Both bromine and antimony were detected in the most electronic part which contains plastics. The classification of elements contained and the procedures for identification of emission peaks in X-ray fluorescence spectrum were explained.
- 社団法人 資源・素材学会の論文
- 2008-09-25
著者
-
河合 潤
京大工
-
山本 孝
京都大学大学院工学研究科
-
河合 潤
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
-
山本 孝
徳島大学大学院ソシオ・アーツ・アンド・サイエンス研究部
-
HIDAYANTO Eko
京都大学大学院工学研究科 材料工学専攻
-
河合 潤
京都大学大学院工学研究科
-
河合 潤
京大院・工
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