低原子番号被覆層を有する平板X線導波路特性の数値シミュレーション(<特集>原子をみる)
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概要
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A numerical simulation was performed to check the aptitude of low-Z materials, like carbon and boron, to be used as cladding layers in planar X-ray waveguides with a beryllium core. For a particular incident beam-energy value, an optimization technique based on a genetic algorithm was used to find the waveguide layer thicknesses, which provided the highest electric field intensity resonant enhancement in the core layer. The results of C/Be/C and B/Be/B waveguide simulations for incident beam energies from 10 to 15 keV were compared with the results obtained for Mo/Be/Mo waveguides. This comparison showed that waveguides with low-Z cladding layers should provide a guided beam of high intensity.
- 2006-06-05
著者
-
河合 潤
京大工
-
河合 潤
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
-
KARIMOV Pavel
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
-
KURMAEV Ernst
Institute of Metal Physics, Urals Division of the Russian Academy of Sciences
-
河合 潤
京都大学大学院工学研究科
-
Kurmaev Ernst
Institute Of Metal Physics Urals Division Of The Russian Academy Of Sciences
-
Kurmaev Ernst
Institute Of Metal Physics Russian Academy Of Sciences Urals Division
-
Karimov Pavel
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻:institute Of Metal Physics Urals Division Of The Russian Academy Of Sciences
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