乾電池小型蛍光X線装置による環境標準試料の蛍光X線分析

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• アグネ技術センタ-の論文

著者

• 石井 秀司

  京都大学大学院工学研究科材料工学専攻:(現)(株)イオン工学研究所

• 石井 秀司

  東京大学 生産技術研究所

関連論文

• シリコンドリフト線検出器による走査電子顕微鏡でのSEM-EDX
• 光電子スペクトロホログラフィー法の開発 : 固体表面の三次元原子配列を観るために
• 水素吸蔵合金のSEM-EDXによる元素分布分析
• XAFSによる微粒子の化学状態分析(分析技術と方法論の最近の進歩)
• 酸化チタン光触媒粒子リスク評価のための個別粒子分析
• 1p-Z-11 表面EXAFSによる(1×1)S/Ni(7 9 11)および(√×√)R30゜S/Ni(7 9 11)の構造決定
• アジア工業都市における黄砂降下物の元素分析並びに硫黄の化学状態分析(海と空と島の環境分析)
• X線光電子回折(XPED)
• 表面EXAFSによるNiステップ面上のP, S, Clの吸着構造の研究
• 単分子吸着したNi(111)表面のCr-Lα, Al-Kα線光電子回折における光源依存性
• 回折面アパーチャを用いた X 線光電子回折パターンの高角度分解能測定
• 光電子スペクトロホログラフィー装置の開発
• 光電子スペクトロホログラフィー
• 28pXC-3 光電子回折/ホログラフィ測定の高精度化と個体表面解析
• エネルギー・角度同時検出の新型アナライザーを用いた オージェ電子回折測定
• 28p-S-15 Ge(111)-e(2×8)上へのCuの成長初期過程のX線光電子回折による研究
• 26a-YR-10 X線光電子回折法を用いたCu/Ge(111)の研究
• 31a-PS-7 超薄膜からの光電子回折パターン中のホログラフィック干渉環の研究
• 7a-PS-53 X線光電子回折における菊池バンドをもちいた結晶構造因子の決定
• 29p-T-13 電子線回折と異なる光電子回折における菊池バンドの消滅則
• 29a-PS-30 Ge(111)-c(2×8)上に成長させたSrF_2超薄膜の光電子回折による構造解析
• CaF_2-硫黄処理InP(100)界面の硫黄層からの光電子回折
• 3p-J-7 光電子回折法による S/InP(100)及びその上に成長した CaF_2薄膜の構造解析
• 乾電池X線発生装置を用いる米及び米ぬかの蛍光X線分析
• SEM-EDX--SR-XRF-XANES (特集 EPMAの最近の展開)
• マルチエネルギー強力X線光源強度の加速電圧依存性とその経時変化
• 乾電池小型蛍光X線装置による環境標準試料の蛍光X線分析
• 第14回X線分析講習会・第41回X線分析討論会報告
• 低軟X線領域における大口径シリコンドリフト検出器を利用した部分蛍光収量XAFS測定
• 24pYF-6 光電子回折/ホログラフィー(24pYF 領域9,領域10合同シンポジウム 主題:電子回折の新展開,領域9(表面・界面,結晶成長分野))

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク