端面スクラッチのある光コネクタの耐久性に関する実験(光部品・電子デバイス実装技術,一般)
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概要
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端面に傷のあるPCコネクタの耐久性を調べるため,光コネクタ端面部分にコアを通るスクラッチをつけたサンプルを作製し,ハイパワー通光試験を行うと共に,端面に異物を付着させた後に拭き取った場合の傷に残る異物の影響について調べた.試験の結果,今回のサンプルでは端面スクラッチがPCコネクタの耐久性に影響する根拠を見出すことはできなかった.
- 2006-08-17
著者
-
長瀬 亮
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
平 淳司
株式会社精工技研
-
椎野 雅人
古河電気工業株式会社
-
井上 正夫
Jis光コネクタ標準化委員会:ヒロセ電機株式会社
-
長瀬 亮
千葉工業大学
-
長瀬 亮
日本電信電話(株)武蔵野研究所
-
平 淳司
Jis光コネクタ標準化委員会:株式会社精工技研
-
椎野 雅人
古河電気工業株式会社研究開発本部ファイテルフォトニクス研究所
-
椎野 雅人
Jis光コネクタ標準化委員会:古河電気工業株式会社
-
井上 正夫
ヒロセ電機株式会社
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