C-3-35 端面傷のある光コネクタの耐久性に関する実験(C-3. 光エレクトロニクス, エレクトロニクス1)
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概要
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- 2005-03-07
著者
-
小林 勝
日本電信電話株式会社 NTTフォトニクス研究所
-
長瀬 亮
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
小林 勝
Nttアドバンステクノロジ(株)
-
細野 茂
日本電信電話(株)nttフォトニクス研究所
-
長瀬 亮
千葉工業大学
-
長瀬 亮
日本電信電話(株)武蔵野研究所
-
柳 秀一
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
柳 秀一
NTTフォトニクス研究所
-
柳 秀一
Ntt フォトニクス研
-
柳 秀一
日本電信電話株式会社NITフォトニクス研究所
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