端面傷のある光コネクタの耐久性に関する実験
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概要
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端面に傷のあるPCコネクタの耐久性を調べるため, 反射減衰量を45dBあるいは35dBまで劣化させたサンプルを作製し, ハイパワー通光試験および繰返し着脱試験を行った. 試験の結果, 今回のサンプルでは端面傷がPCコネクタの耐久性に影響する根拠を見出すことはできなかった.
- 2005-04-08
著者
-
小林 勝
日本電信電話株式会社 NTTフォトニクス研究所
-
長瀬 亮
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
小林 勝
Nttアドバンステクノロジ(株)
-
細野 茂
日本電信電話(株)nttフォトニクス研究所
-
長瀬 亮
千葉工業大学
-
長瀬 亮
日本電信電話(株)武蔵野研究所
-
柳 秀一
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
-
柳 秀一
NTTフォトニクス研究所
-
柳 秀一
Ntt フォトニクス研
-
柳 秀一
日本電信電話株式会社NITフォトニクス研究所
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