BIXS法のトリチウム汚染材料計測への応用
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概要
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Depth profiles of tritium in stainless steel type 316 loaded at several different conditions at JET were analyzed by β-ray-induced X-ray spectrometry (BIXS), in order to investigate the possibilities of the measurement method. The tritium depth profiles obtained by BIXS were compared with that obtained by chemical etching and radioluminography (RLG) methods. It was found that most of tritium depth profiles near surface (up to ?2μm) obtained by BIXS were in good accordance with chemical etching and RLG methods. In the same time significant difference between BIXS and RLG was found in determination of tritium depth profiles in the sub-surface layer. The reasons for the deviations will be discussed.
- 富山大学の論文
著者
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松山 政夫
富山大学水素同位体科学研究センター
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鳥養 祐二
富山大学水素同位体科学研究センター
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村田 大樹
富山大学水素同位体科学研究センター
-
渡辺 国昭
富山大学水素同位体科学研究センター
-
渡辺 国昭
富山大 水素同位体科学研究セ
-
Perevezentsev A.
EURATOM UKAEA Fusion Association, Culham Science Center
-
鳥養 祐二
富山大学水素同位体研究センター
-
Watanabe K
Toyama Univ. Toyama Jpn
-
Perevezentsev A.
Euratom Ukaea Fusion Association Culham Science Center
-
松山 政夫
富山大学水素同位体機能研究センター
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渡辺 国昭[他]
富山大学トリチウム科学センター
-
渡辺 国昭
富山大学水素同位体機能研究センター
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