Holographic Analysis of Incident Electron Beam Angular Distribution of Characteristic X-rays : Internal Detector Electron Holography(Condensed Matter: Structure, Mechanical and Thermal Properties)
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概要
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The incident electron beam angular distribution of Ti Kα characteristic X-rays from a strontium titanate single crystal was measured by scanning electron microscopy. The isotropy exhibits typical features observed in conventional photoelectron holography. Reconstructions by Fourier-transformation-based algorithm clearly show neighboring Sr and Ti atoms around Ti, the validity of which was verified by computer simulation. The demonstration paves the way to obtaining multiple energy holograms of nanostructured materials using the energy tunability of focused electron beams.
- 社団法人日本物理学会の論文
- 2006-05-15
著者
-
林 好一
東北大学金属材料研究所
-
松原 英一郎
京大工
-
松原 英一郎
東北大金研
-
Hayashi Kenshi
Department Of Electronics Faculty Of Engineering Kyushu University
-
松原 英一郎
京都大学 大学院工学研究科 材料工学専攻
-
MATSUBARA Eiichiro
Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University
-
松原 英一郎
Department Of Material Science And Engineering Kyoto University
-
林 好一
京都大学大学院工学研究科
-
MATSUSHITA Tomohiro
Japan Synchrotron Radiation Research Institute
-
HAYASHI Kouichi
Institute for Materials Research, Tohoku University
-
Matsushita Tomohiro
Japan Synchrotron Radiation Research Institute (jasri)
-
Matsubara Eiichiro
Kyoto Univ. Kyoto Jpn
-
Matsubara Eiichiro
Department Of Materials Science And Technology Kyoto University
-
Matsubara Eiichiro
Research Institute Of Mineral Dressing And Metallurgy (senken) Tohoku University
-
松原 英一郎
京都大学大学院 工学研究科 材料工学専攻
-
Matsubara Eiichiro
Department Of Materials Science And Engineering Faculty Of Engineering Kyoto University
-
Hayashi K
Photodynamics Research Center Riken (institute Of Physical And Chemical Research)
-
MATSUBARA Eiichiro
Department of Material Science and Engineering, Kyoto University
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