3C02 表面アンカリングの光変調に基づく液晶エマルションにおける配向欠陥の構造転移(トピカルセッション-液晶物性計測の最前線-, 2005年日本液晶学会討論会)
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概要
著者
-
横山 浩
Jst液晶ナノシステム:産総研
-
横山 浩
産総研ナノテク:jst Erato Sorst
-
山本 貴広
産総研ナノテク部門:jst Erato Sorst液晶ナノシステムプロジェクト
-
多辺 由佳
産総研
-
多辺 由佳
産業技術総合研究所ナノテクノロジー研究部門
-
多辺 由佳
工業技術院電子技術総合研究所
-
多辺 由佳
産総研ナノテク部門
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