22pXF-6 ロックイン技術を用いた光電子の分子振動励起によるエネルギー損失の測定法(表面・界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2005-08-19
著者
-
上田 茂典
理研PDC
-
上原 洋一
理研PDC
-
潮田 資勝
理研PDC
-
上原 洋一
東北大通研
-
上原 洋一
東北大学電気通信研究所
-
潮田 資勝
東北大通研
-
潮田 資勝
物材機構
-
林 慶
東北大学大学院工学研究科
-
荒船 竜一
JSTさきがけ
-
林 慶
理研PDC
-
荒船 竜一
理研PDC
-
USHIODA Sukekatsu
Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University
-
Ushioda Sukekatsu
Crest Japan Science And Technology Corporation:research Institute Of Electrical Communication Tohoku
-
荒船 竜一
物材機構MANA
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