走査型トンネル顕微鏡(STM)発光の高感度計測技術
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概要
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Scanning tunneling microscope (STM) light emission spectroscopy provides a powerful tool for characterization of individual nanometer scale structures on solid surfaces. However, the light to be detected is usually very weak. It is desirable to improve the intensity level for measurements with good signal-to-noise ratio. For this purpose the role that the STM tip-sample gap plays in the light emission is analyzed by the dielectric theory of STM light emission. Based on the theoretical predictions, we discuss how one can obtain strong STM light emission and problems associated with the enhancement of emission.
- 日本真空協会の論文
- 2008-12-20
著者
-
上原 洋一
東北大通研
-
上原 洋一
東北大学電気通信研究所
-
潮田 資勝
東北大通研
-
潮田 資勝
物材機構
-
潮田 資勝
物質・材料研究機構
-
USHIODA Sukekatsu
Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University
-
Ushioda Sukekatsu
Crest Japan Science And Technology Corporation:research Institute Of Electrical Communication Tohoku
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