走査型トンネル顕微鏡の発光分光による表面ナノ物性計測
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概要
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- 2002-12-20
著者
-
坂本 謙二
物材機構
-
上原 洋一
東北大通研
-
上原 洋一
東北大学電気通信研究所
-
潮田 資勝
東北大通研
-
潮田 資勝
物材機構
-
USHIODA Sukekatsu
Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University
-
坂本 謙二
東北大通研・科技団:理研pdc
-
潮田 資勝
東北大学 ; 電気通信研究所
-
上原 洋一
東北大学 ; 電気通信研究所
-
坂本 謙二
東北大学 ; 電気通信研究所
-
鶴岡 徹
東北大学 ; 電気通信研究所
-
Ushioda Sukekatsu
Crest Japan Science And Technology Corporation:research Institute Of Electrical Communication Tohoku
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