Visibility Measurement with an X-Ray Interferometer Using a Coincidence Technique : Instrumentation, Measurement, and Fabrication Technology

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概要

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• 社団法人応用物理学会の論文
• 2001-06-15

著者

• YABASHI Makina

  SPring-8/Riken

• TAMASAKU Kenji

  SPring-8/Riken

• ISHIKAWA Tetsuya

  SPring-8/Riken

• Tamasaku K

  Department Of Physics And Department Of Complexity Science And Engineering University Of Tokyo

• Tamasaku Kenji

  Superconductivity Research Course University Of Tokyo

• Tamasaku Kenji

  Superconductivity Research Course The Niversity Of Tokyo

• Park Chon-Yun

  成均館大理

• Ishikawa Tetsuya

  Riken Spring-8 Center Harima Institute

• Ishikawa Tetsuya

  ISTEC-SRL

• Kinoshita Toyohiko

  Institute For Solid State Physics University Of Tokyo

• Kanomata Takeshi

  Department Of Applied Physics Tohoku-gakuin University

• Kanomata T

  Faculty Of Engineering Tohoku Gakuin University

• Kamada Toru

  Department Of Physics Faculty Of Science Tokyo Metropolitan University

• Tamasaku K

  Harima Inst. Riken/spring‐8 Hyogo Jpn

• Yabashi Makina

  SPring-8/Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI), 1-1-1 Koto, Sayo, Hyogo 679-5198, Japan

• Ishikawa Tetsuya

  SPring-8/Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI), 1-1-1 Koto, Sayo, Hyogo 679-5198, Japan

• YABASHI Makina

  SPring-8, Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI)

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