アレイ導波路型グレーティングの振幅・位相測定
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概要
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アレイ導波路型グレーティング(AWG:Arrayed Waveguide Grating)は、近接した波長の光を合分波できるため、高密度波長多重通信システム用として開発が活発に行なわれている。AWGの特性は、各アレイ導波路を伝搬する光の振幅・位相によって決定される。この振幅・位相を非破壊で測定する方法として、Fourier Transform Spectrometer(FTS)が提案され、高精度な測定結果が得られている。今回、本方法を用いて矩型的な波長損失特性を持つAWGの振幅・位相を測定したのでその結果について報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-08-13
著者
-
上塚 尚登
日立電線株式会社
-
荒井 英明
日立電線株式会社オプトロシステム研究所
-
大川 正浩
日立電線株式会社オプトロシステム研究所
-
丸 浩一
日立電線株式会社オプトロシステム研究所
-
丸 浩一
東京工業大学 理工学研究科
-
荒井 英明
日立電線オプトロシステム研究所第1部
-
大川 正浩
日立電線(株) オプトロシステム研究所
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