Push In Modulus Test による光ファイバ被覆の弾性率測定

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概要

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光ファイバの被覆は、ガラスファイバを機械的&化学的な外乱から防御する役目を担っている。この防御能力は、被覆の硬化度、特に一次被覆層の硬化度に大きく依存しており、この硬化度の不足は、ガラスとの密着力低下による疲労特性の劣化、及びマイクロベンドロス増発生、等様々な問題を引き起こすことになる。したがってファイバの長期信頼性を保証するためには、一次被覆層の硬化度評価、及びその管理が不可決となる。一次被覆層の硬化度を直接測定する方法としては、「In-Situ Modulus Test」がAT&Tにおいて開発されているが、サンプル作製が極めて難しいため汎用されてはいない。そこで今回、徽小硬度計を用いることにより、より簡便な一次被覆層の弾性率評価方法を開発したので報告する。
社団法人電子情報通信学会の論文
1994-09-26

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