純シリカクラッド表面への圧縮応力付与による低曲げ損失光ファイバの信頼性向上
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概要
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FTTxの世界的な進展に伴う光ファイバ敷設の効率化への要求に応えるため,曲率半径5mmでも曲げ損失が極めて小さい低曲げ損失ファイバ(BIF)が提案されている.BIFは長距離伝送路と比べ大きな応力が与えられる用途が想定されるため,その破断強度,破断時間の改善は重要となる.今回,光ファイバの組成を変更することなく純シリカクラッドの最外周のみに選択的に圧縮応力を付与する方法を開発し,光ファイバの破断強度を10%以上,破断時間をおよそ1桁改善することに成功したので報告する.
- 2011-01-20
著者
-
平野 正晃
住友電気工業株式会社光通信研究所
-
佐々木 隆
住友電気工業株式会社光通信研究所
-
佐々木 隆
住友電気工業株式会社
-
服部 知之
住友電気工業株式会社
-
稲井 麻紀
住友電工光通信研究所
-
稲井 麻紀
住友電気工業(株)光通信研究所
-
中西 哲也
住友電気工業株式会社
-
平野 正晃
住友電気工業株式会社
-
平野 正晃
住友電気工業(株)光通信研究所
-
稲井 真紀
住友電気工業株式会社
-
稲井 麻紀
住友電工 光通信研究所
-
服部 知之
住友電気工業 光通信研
-
小西 達也
住友電気工業株式会社
-
服部 知之
住友電気工業
-
中西 哲也
住友電気工業
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