高速シリアルリンクのためのアットスピード・セルフテストLSI(回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
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概要
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PCI-Expressなどの高速シリアルリンクでは,at-speedでのICテストが必要な場合,数GHzの信号が取り扱えるハイエンドICテスタが必要である.しかし,テストコストの増加は,製品価格の増加につながるため,汎用品への高速シリアルリンクの導入のためには,低コストなテストシステムの開発は重要である.本発表では,高速シリアルリンクのat-speed信号をテストできるセルフテスト手法を提案し,試作チップの設計およびローエンドテスタによるICテストを実行して,その有用性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-12-09
著者
-
佐々木 守
広島大学大学院先端物質科学研究科
-
長畑 博之
サンユー工業株式会社
-
石松 賢治
熊本県工業技術センター
-
長畑 博之
サンユー工業
-
金沢 守道
ルネサステクノロジ熊本工場
-
神立 信一
ルネサステクノロジ熊本工場
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