32ビットマイクロコントローラにおけるテスト容易化設計の一手法

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概要

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32ビットマイクロコントローラに採用した、テスト容易化設計について報告する。このマイクロコントローラは、命令キャッシュとデータキャッシュとを搭載しており、これらキャッシュメモリは除算,開平のための初期値を格納したROMと共に、組み込み自己検査が行える。それぞれのキャッシュが接続された独立した2つの内部バスに着目し、これらバスにデータを出力可能なデータ発生回路と、これら2つのバスを入力とするデータ比較回路とを1組設けた。この構成により、少ない付加回路で命令キャッシュとデータキャッシュの組み込み自己検査が可能となった。また、データの書き込みを命令キャッシュとデータキャッシュで並列に行うことにより、検査時間も短縮できた。
1993-12-16

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