AlGaInP系歪多重量子井戸レーザの利得特性
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概要
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スピンスプリットオフバンドを考慮したAlGaInP系歪量子井戸レーザの利得特性を理論的に解析した。井戸層に用いるGaInPはスピンスプリットエネルギーが約0.1eVと小さいために、レーザの利得特性に多大な影響を与えることがわかった。スピンスプリットオフバンドはΓ点においてもライトホールと強く結合し、広いエネルギー範囲で状態密度を増大させる。このため歪の比較的小さい場合、任意の注入レベルにおける最大利得は特に低下する。しかし、歪を導入すると増大した状態密度のエネルギーが変化し、スピンスプリットオフバンドの影響を小さくしたり、逆にこの効果によって高速化を図ったりすることが可能となる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-05-19
著者
-
大仲 清司
松下電器産業株式会社先端技術研究所
-
萬濃 正也
松下電器産業(株)半導体研究センター
-
上山 智
松下電器産業(株) 半導体研究センター
-
上山 智
松下電器産業
-
上野山 雄
松下電器産業
-
萬濃 正也
松下電器産業
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大仲 清司
松下電器産業株式会社 中央研究所
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大仲 清司
松下電器産業(株) 先端技術研究所 ナノテクノロジー研究所
-
大仲 清司
松下電器産業株式会社
-
上野山 雄
松下電器産業株式会社 中央研究所
-
上野山 雄
松下電器産業(株)中央研究所
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