表示用高耐圧ドライバLSIにおけるシステムノイズ破壊解析と耐性評価方法の提案
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概要
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LCD、有機EL、PDPパネルなどの表示用ドライバLSIは、高電圧出力が要求されるため、ESDに対し非常に敏感となる高耐圧素子が使用されている。そのため、これらのLSIはESDS(静電気敏感性)デバイスとなることが多い。さらに、市場の立ち上がり時期にある有機ELパネルは、その構造上パネル素子容量が大きいため、パネル負荷充放電電流による障害の発生が懸念されている。そこで、今回有機ELパネル負荷充放電現象によるドライバLSI破壊現象のメカニズム解析結果及び強度評価方法検討を報告する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-10-11
著者
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福田 保裕
沖電気工業品質保証センタ
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福迫 真一
沖電気工業
-
福迫 真一
沖電気工業株式会社 シリコンソリューションカンパニーデザイン本部assp設計部
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加藤 且宏
沖電気工業株式会社 シリコンソリューションカンパニー研究本部soi商品開発部
-
石井 聡巳
沖電気工業株式会社 シリコンソリューションカンパニー生産本部デバイス技術部
-
木村 偉作夫
沖電気工業株式会社 シリコンソリューションカンパニー生産本部デバイス技術部
-
日野原 邦夫
沖電気工業株式会社 シリコンソリューションカンパニーデザイン本部ASSP設計部
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福田 保裕
沖電気工業 研究本部
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福田 保裕
沖電気工業株式会社 シリコンソリューションカンパニー研究本部soi商品開発部
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福田 保裕
沖電気工業
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日野原 邦夫
沖電気工業
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加藤 且宏
沖電気工業
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