ATMスイッチにおけるセル廃棄連続の評価とその抑制制御
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概要
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ATMスイッチのバッファあふれによるセル廃棄は, 一般に連続する傾向がある. セル廃棄連続はATM伝送系の品質劣化の要因となるので, その抑制は高品質化のための重要な課題である. 本論文は, まずバッファあふれによるセル廃棄連続に関して, 比較的に容易な近似解析法を提案し, シミュレーションによりその検証を行った. つぎに, セル廃棄を生じたパスを適応的に優先処理することにより, セル廃棄連続を抑圧する制御方式を提案し, 単一ノードおよび多段ノード系において, その有効性をシミュレーションにより明らかにした.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-05-25
著者
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