内部高速型ATMスイッチにおける高速セル転送アルゴリズムの検討

概要

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内部高速型ATMスイッチにおけるバックプレッシャアルゴリズムの採用は,所望のセルロス確率を満足するための出力バッファサイズを任意に設計できるため,入出力バッファサイズの均一化の面で有効である.しかし,内部速度比や入力トラヒックの条件によっては,出力バッファのホットスポット化に伴い入力バッファのHOLブロッキングが生じるため(図1),所望のセルロス確率を満足するために必要とされるトータルバッファサイズがバックプレッシャアルゴリズムを用いない場合と比べ増加してしまう.ホットスポットの影響を低減するためには,入力バッファをRIRO型とすることが考えられる。しかし,RIRO型入力バッファでは、セル送出の論理が複雑となるため,セル転送速度の制限を生じることが予想される.そこで,FIFO型入力バッファを持つ内部高速型ATMスイッチにおいて,出力バッファのホットスポット化の影響を低減し,必要トータルバッファサイズを削減するためのセル転送アルゴリズムを提案する.[figuar]
社団法人電子情報通信学会の論文
1995-03-27