摂動法による誘電率測定における試料挿入穴の影響
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概要
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摂動法による誘電率測定において、試料負荷によるTM_010モードの共振周波数の偏移は空洞の高さが低くなるにつれて小さくなり、完全閉鎖空洞に対する摂動公式を適用すると誘電率は見かけ上低く算出された。試料の誘電率が大きくなると高さ依存性も大きくなった。挿入穴が大きいほど計算上の誘電率の低下は激しかった。これらの現象は試料挿入穴周辺の電場の乱れによるものであると結論した。電磁場シミュレーションにより軸方向電場の減少と径方向電場の生成を確認した。測定値に及ぼす電場の変化分の役割を分類して考察した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-12-14
著者
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福永 達也
Tdk株式会社
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池田 雅昭
TDK株式会社 高周波部品部G
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三浦 太郎
TDKテクノ株式会社
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三浦 太郎
The University Of Manchester School Of Electrical And Electronics Engineering
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三浦 太郎
Tdkテクノ(株)
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福永 達也
Tdk
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