マイクロ波フェライトの非線形特性評価法に関する研究
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概要
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サーキュレータに使用されるフェライト単体の混変調歪み(IMD)評価につき、二つの方法を報告する。第一はフェライトが発生する高次高調波より評価する方法で、第二は二周波数法により評価する方法である。これまで解決されていなかった「フェライトに強高周波磁界を印加する方法」はストリップ線路共振器内の磁界を利用することで解決した。この構想に基づいて試験器具を設計して組み立て、2GHz帯におけるIMDを評価した。併せて調べられたフェライト形状依存性評価より、フェライト内部の磁界分布均一化がIMD軽減とハンドリング電力増加へ同時に寄与することを確認した。
- 2008-05-22
著者
-
三浦 太郎
The University Of Manchester School Of Electrical And Electronics Engineering
-
デイヴィス ライオネル
The University of Manchester, School of Electrical and Electronics Engineering
-
デイヴィス ライオネル
The University Of Manchester School Of Electrical And Electronics Engineering
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