電気化学的堆積法により作製したCdS薄膜への熱処理雰囲気による影響
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概要
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CdSO_4とNa_2S_2O_3を含み、pH値を釣2.5にした溶液から、ネサガラス(In_2O_3)基板上に、電気化学的堆積(electrochemically deposition)法によりCdS薄膜を作製した。これを窒素、空気、酸素の各雰囲気において200〜500℃で30分間アニールした。He-Cdレーザを用いて77Kでフォトルミネッセンス測定を行うと、窒素雰囲気アニールの場合、アニール温度が高いほど、488nmのバンド始発光は弱くなり、より長波長側に欠陥準位を介した発光が現れた。しかし、空気、酸素雰囲気アニールの場合、アニール温度に関わらずバンド始発光が強く観測され、欠陥準位を介した発光の長波長側へのシフトはみられなかった。また、ピークの幅は、酸素雰囲気アニールの方が狭くなった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1996-05-23
著者
-
市村 正也
共同研究センター
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森口 幸久
名古屋工業大学技術部
-
後藤 文孝
名古屋工業大学電気情報工学科
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森口 幸久
名古屋工業大学 電気情報工学科
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白井 克典
名古屋工業大学 電気情報工学科
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森口 幸久
名古屋工業大学
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