組込み自己検査用並列パタン生成回路のランダム性評価
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概要
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CMOSデバイスの開放故障や一般の遅延故障を組込み自己検査(BIST)で検出するためには,被検査回路になるべく多くの入力変化を与える必要がある.本文ではどのような尺度が実際の故障検出能力の目安として有効であるかを調べるために,LFSRやそれを目的として設計された並列パタン生成回路の出力系列のランダム性をギャプやランなど,いくつかの統計的な尺度により評価している.開放故障検出のための2パタンテストには,統計的な尺度よりも遷移被覆度の方が優れていることが明かとなった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1993-08-19
著者
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